試驗(yàn)項(xiàng)目的定義和目的不同

1、溫度循環(huán)試驗(yàn)

溫度循環(huán)測(cè)試就像是在模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用過(guò)程中所經(jīng)歷的日常溫度變化場(chǎng)景。如，電子產(chǎn)品在一年四季的使用中，會(huì)隨著外界環(huán)境溫度的起伏而經(jīng)歷不同的溫度狀況。該測(cè)試的目的是通過(guò)模擬這種長(zhǎng)期的溫度波動(dòng)，來(lái)全面評(píng)估產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間溫度變化下的性能表現(xiàn)和穩(wěn)定性。它就像是一場(chǎng) “耐力考驗(yàn)”，考察產(chǎn)品能否在長(zhǎng)期的溫度 “折騰” 中始終保持良好的狀態(tài)。

2、溫度沖擊試驗(yàn)

溫度沖擊與溫度循環(huán)不同，溫度沖擊測(cè)試更側(cè)重于模擬產(chǎn)品在極短時(shí)間內(nèi)遭遇極端溫度突變的情況。例如，航空航天設(shè)備在穿越大氣層時(shí)，可能會(huì)瞬間經(jīng)歷從極低溫度到極高溫度的劇烈變化。此測(cè)試的主要作用是快速評(píng)估產(chǎn)品在這種突發(fā)溫度變化下的適應(yīng)能力和表現(xiàn)，仿佛是一場(chǎng) “突擊考試”，檢驗(yàn)產(chǎn)品能否承受住瞬間的極端溫度 “沖擊”。

測(cè)試范圍

1、溫度循環(huán)試驗(yàn)

測(cè)試對(duì)象：一般對(duì)電路板、部件、整機(jī)、設(shè)備或系統(tǒng)進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)，通常只需在要求篩選的幾臺(tái)或 1 臺(tái)受試整機(jī)或系統(tǒng)上進(jìn)行測(cè)試。

應(yīng)用場(chǎng)景：其主要用于考核電子設(shè)備在溫度循環(huán)變化環(huán)境中的適應(yīng)性能力，評(píng)估設(shè)備是否能夠在這種環(huán)境下正常工作。適用于汽車(chē)、電子設(shè)備、家電等需要進(jìn)行長(zhǎng)期耐久性測(cè)試的產(chǎn)品，通過(guò)模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中的溫度變化，檢驗(yàn)產(chǎn)品的整體性能和耐久性。

2、溫度沖擊試驗(yàn)

測(cè)試對(duì)象：該試驗(yàn)主要針對(duì)電子元器件、電路板、零部件等進(jìn)行測(cè)試，尤其適用于集成電路器件等元件的篩選，且通常需要測(cè)試較多數(shù)量的樣品。

應(yīng)用場(chǎng)景：它能夠有效評(píng)估材料或組件在快速溫度變化條件下的可靠性、耐熱性、抗熱膨脹性以及耐久性。在電子設(shè)備、航空航天、汽車(chē)零部件等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，這些領(lǐng)域的產(chǎn)品常常需要承受瞬時(shí)的溫度變化，通過(guò)溫度沖擊試驗(yàn)可以提前篩選出性能不佳的元件，確保產(chǎn)品在實(shí)際使用中的可靠性。

三、測(cè)試要求不同

1、溫度循環(huán)試驗(yàn)

高溫溫度值、低溫溫度值、溫度變化速率（如5℃/min）、高低溫溫度點(diǎn)保持時(shí)間、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為寬松，循環(huán)次數(shù)多為10次循環(huán)。

2、溫度沖擊試驗(yàn)

高溫溫度值、低溫溫度值、溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間（如溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間≤3min）、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為嚴(yán)苛，循環(huán)次數(shù)多為幾次至幾十次循環(huán)不等。

四、適用的產(chǎn)品階段不同

溫度沖擊試驗(yàn)通常適用于研發(fā)初期階段；

溫度循環(huán)試驗(yàn)通常適用于產(chǎn)品量產(chǎn)階段。

五、受試樣機(jī)的工作狀態(tài)不同

溫度循環(huán)試驗(yàn)：溫度循環(huán)試驗(yàn)期間要求在不同的循環(huán)時(shí)間點(diǎn)需要對(duì)受試樣機(jī)進(jìn)行上電檢測(cè)功能和性能的完好性。

溫度沖擊試驗(yàn)：溫度沖擊試驗(yàn)期間一般不要求對(duì)受試樣機(jī)進(jìn)行上電檢測(cè)，試驗(yàn)后通電檢測(cè)或通過(guò)專(zhuān)業(yè)輔助儀器測(cè)試樣機(jī)的其他性能指標(biāo)。

六、受試樣品的數(shù)量不同

溫度沖擊試驗(yàn)：一般針對(duì)集成電路器件、電路板等進(jìn)行，測(cè)試的數(shù)量一般較多。

溫度循環(huán)試驗(yàn)：一般的環(huán)境應(yīng)力篩選只在要求篩選的幾臺(tái)或1臺(tái)受試整機(jī)或系統(tǒng)上進(jìn)行測(cè)試。

七、測(cè)試設(shè)備不同

溫度循環(huán)試驗(yàn)：對(duì)于不要求溫度變化速率或溫度變化速率要求比較低（如1℃/min）的溫度循環(huán)試驗(yàn)，其實(shí)就是常規(guī)的高低溫循環(huán)試驗(yàn),使用普通的高低溫試驗(yàn)箱即可進(jìn)行測(cè)試。對(duì)于要求高溫度變化速率（15℃/min）的溫度循環(huán)試驗(yàn)，需要使用專(zhuān)用的快速溫變箱進(jìn)行測(cè)試，普通溫度箱是不能滿足要求的，對(duì)于要求更高溫度變化速率的，就需要使用高加速壽命HALT試驗(yàn)箱

溫度沖擊試驗(yàn)：一箱法的溫度沖擊試驗(yàn)箱，試驗(yàn)箱只有一個(gè)區(qū)域，低溫溫度點(diǎn)時(shí)，高溫風(fēng)門(mén)關(guān)閉，只送冷風(fēng)，高溫溫度點(diǎn)時(shí)，低溫風(fēng)門(mén)關(guān)閉，高溫風(fēng)門(mén)打開(kāi)送熱風(fēng)。兩箱法溫度沖擊箱，一個(gè)低溫區(qū)，一個(gè)高溫區(qū)，通過(guò)提籃將受試樣品在低溫區(qū)和高溫區(qū)之間轉(zhuǎn)換。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)不同

1、溫度循環(huán)試驗(yàn)

GJB 1032-1990《電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法 》；

GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化》規(guī)定溫度變化速率。

2、溫度沖擊試驗(yàn)

GJB 150.5A-2009《裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)》；

GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化》規(guī)定溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間。

溫度循環(huán)試驗(yàn)和溫度沖擊試驗(yàn)雖然有太多的不同點(diǎn)，但它們都屬于氣候類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)中都非常重要的檢測(cè)項(xiàng)目類(lèi)型，在產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程的不同階段，都對(duì)提高產(chǎn)品的可靠性具備非常重要的作用。