可靠性研制試驗(yàn)
通過對產(chǎn)品施加適當(dāng)?shù)沫h(huán)境應(yīng)力、工作載荷,暴露產(chǎn)品中的潛在缺陷,來改進(jìn)設(shè)計(jì),提高產(chǎn)品的固有可靠性水平。
試驗(yàn)要點(diǎn)
1、產(chǎn)品研制階段應(yīng)盡早開展可靠性研制試驗(yàn),通過TAAF過程來提高產(chǎn)品的可靠性。
2、可靠性研制試驗(yàn)是設(shè)計(jì)開發(fā)試驗(yàn)的組成部分,盡可能與其他研制試驗(yàn)結(jié)合進(jìn)行。
3、可靠性研制試驗(yàn)可采用加速應(yīng)力進(jìn)行,誘發(fā)故障以識(shí)別薄弱環(huán)節(jié),或驗(yàn)證設(shè)計(jì)余量。工程上常用的試驗(yàn)方法,如HALT測試,具體測試方法可以按照GB/T34986或GB/T29309進(jìn)行。
4、可靠性研制試驗(yàn)的應(yīng)力選擇應(yīng)綜合考慮環(huán)境條件、工作載荷、薄弱環(huán)節(jié)、敏感應(yīng)力等因素。
5、可靠性研制試驗(yàn)的時(shí)間選擇應(yīng)以有效激發(fā)故障為出發(fā)點(diǎn)。例如,產(chǎn)品在研制階段常開展的可靠性摸底試驗(yàn),一般測試時(shí)間為120h或者240h。對于小概率故障的激發(fā),測試時(shí)間也可延長到受試產(chǎn)品最低壽命要求的20%~30%。
壽命試驗(yàn)
發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可能過早發(fā)生損耗的零部件,以確定影響產(chǎn)品壽命的根本原因和可能采取的糾正措施;驗(yàn)證產(chǎn)品在規(guī)定條件下的使用壽命和儲(chǔ)存壽命是否達(dá)到規(guī)定的要求。
試驗(yàn)要點(diǎn):
1、壽命試驗(yàn)適用于產(chǎn)品的研制早期和中期。
2、有壽命要求的產(chǎn)品整機(jī)及零部件,進(jìn)行壽命試驗(yàn)。
3、為了縮短試驗(yàn)時(shí)間,在不改變失效機(jī)理的條件下可采用加速壽命試驗(yàn)方法。加速壽命試驗(yàn)一般在零部件級進(jìn)行。加速壽命測試具體方法按照GB/T34986執(zhí)行。
4、對于耐久性測試,主要考慮耗損性故障和可監(jiān)測的性能退化指標(biāo)。耐久性測試可采用任務(wù)加速的方式實(shí)施。耐久性測試宜確定測試環(huán)境條件、應(yīng)力載荷、運(yùn)行程序與剖面、性能監(jiān)測指標(biāo)等。例如,對工業(yè)機(jī)器人,運(yùn)行程序應(yīng)考慮機(jī)器人各關(guān)節(jié)的速度、加速度、行程等參數(shù)設(shè)置。一般地,速度設(shè)置為最大值,加速度設(shè)置為額定值,各關(guān)節(jié)行程不小于75%。可監(jiān)測的性能退化指標(biāo)有摩擦力、背隙、剛度、精度、功率、發(fā)熱量等,精度類性能指標(biāo)的選擇按照GB/T12642執(zhí)行。
5、壽命試驗(yàn)方案與結(jié)論宜進(jìn)行評審確定。
可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)
驗(yàn)證產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否達(dá)到了規(guī)定的可靠性要求。可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)的數(shù)據(jù)可用于產(chǎn)品可靠性評估工作,通常評估產(chǎn)品的MTBF值,給出產(chǎn)品MTBF值得置信下限。
試驗(yàn)要點(diǎn):
1、對于有可靠性指標(biāo)要求的電子電氣產(chǎn)品,特別是任務(wù)關(guān)鍵的或新技術(shù)含量較高的產(chǎn)品,進(jìn)行可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。試驗(yàn)一般在第三方實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行。
2、可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)盡可能在較高層次的模塊上進(jìn)行,以充分考核接口的實(shí)際情況,提高試驗(yàn)的真實(shí)性。
3、可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)適合在產(chǎn)品量產(chǎn)前的階段執(zhí)行。
4、驗(yàn)證試驗(yàn)方案可以參見GB/T5080.7。
5、可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)前和試驗(yàn)后進(jìn)行評審。
環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)
對受試產(chǎn)品施加規(guī)定的環(huán)境應(yīng)力,來發(fā)現(xiàn)和剔除制造過程中的不良零部件、工藝缺陷等使用階段的早期故障。
試驗(yàn)要點(diǎn):
1、受試產(chǎn)品批量生產(chǎn)初期應(yīng)進(jìn)行環(huán)境應(yīng)力篩選,在批量生產(chǎn)中、后期可根據(jù)批次數(shù)量及質(zhì)量穩(wěn)定情況進(jìn)行全樣或抽樣篩選。
2、環(huán)境應(yīng)力篩選可以在受試產(chǎn)品的任何裝配級上進(jìn)行。對大型系統(tǒng)應(yīng)優(yōu)先考慮在較低裝配級上進(jìn)行篩選。
3、受試產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選,可參見IEC61163-2。對于產(chǎn)品零部件一般根據(jù)缺陷類型確定篩選應(yīng)力。除溫度循環(huán)和隨機(jī)振動(dòng)以外,其他應(yīng)力也可以作為環(huán)境應(yīng)力。
4、為了縮短篩選的時(shí)間,可采用HASS法,快速發(fā)現(xiàn)機(jī)器人使用階段的早期缺陷。篩選程序可以按照GB/T32466 進(jìn)行。
下一篇:基于加速壽命試驗(yàn)的電子產(chǎn)品可靠性評估方法研究
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