集成電路產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)是嚴(yán)格按照IEC 61967和IEC 62132系列進(jìn)行設(shè)計(jì),整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試項(xiàng)目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有創(chuàng)新性、實(shí)踐可行性,滿足各類集成電路模塊、各類存儲(chǔ)芯片、各類電源管理芯片、各類接口芯片、各類時(shí)鐘芯片以及運(yùn)放等。
集成電路產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試項(xiàng)目有:EMI類、EMS類。
EMI類:依據(jù)IEC 61967系列標(biāo)準(zhǔn);
TEM小室法—輻射發(fā)射測(cè)試;
表面掃描法—輻射發(fā)射測(cè)試;
1Ω/150Ω直接耦合法—傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試;
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